可靠性试验

Scannin扫描电子显微镜（SEM）

扫描电子显微镜（SEM）通过样品表面扫描电子束产生的次级电子或反射电子对样品表面进行分析。可以测量样品表面的形状和粒度。

能量分散X射线光谱（EDS）

EDS对从元素5 B（硼）到98 CF（加利福尼亚）的样品产品进行元素和定量分析。

• 多层薄膜厚度测量（最多5层）
• 有害物质（Cr、Br、Cd、Hg、Pb、Cl、Sb、Sn、S等）的分析
• 测量范围：Ti（22）至U（92）
• 样品形式：固体/液体/粉末

※ 测量原理

X射线荧光（xrf）是指从被高能X射线或伽马射线轰击而激发的材料中发射出具有特征性的“二次”（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析和化学分析、特别是在金属、玻璃、陶瓷和建筑材料的研究中。

当材料暴露于短波x射线或γ射线时、其组成原子可能发生电离。电离是指一个或多个电子从原子中射出、如果原子受到的辐射能量大于其电离能、则可能发生电离。X射线和伽马射线的能量足以将紧握的电子从原子的内轨道中排出。以这种方式除去一个电子会使原子的电子结构不稳定、而高轨道上的电子会“落”到低轨道上以填补留下的空穴。在下落过程中、能量以光子的形式释放、光子的能量等于两个轨道的能量差。因此、材料发出辐射、辐射具有存在原子的能量特性。荧光一词适用于吸收特定能量的辐射导致不同能量（通常较低）辐射重新发射的现象。

* 资料来源 : wikipedia.org